◎系所教育目標：
本系所之發展方向以光電科學與固態電子為主，在紮實的學術研究基礎下，並與產業界積極合作，發展前瞻性學術研究及技術開發。
本系研究團隊分成兩大主軸，彼此相互連結，兩大主軸分別為：
(一)光電科學：太陽能電池、液晶光學、非線性光學、光學薄膜、光學設計、光電元件、光纖光學、雷射光學、生醫光電。
(二)固態電子：量子元件、表面及介面科學、磁性薄膜、奈米電子、自旋電子學、半導體薄膜、半導體奈米製程或元件模擬、TFT製程或設計。 |
| ◎核心能力 | 關聯性 |
| 1.培養應用物理知能 | 5 關聯性最強 |
| 2.培養光電科學知能 | 4 關聯性稍強 |
| 3.培養固態電子知能 | 5 關聯性最強 |
| 4.培養實驗技能 | 5 關聯性最強 |
◎本學科學習目標：
1.充實學生之物理專業及相關學科知能
2.培育學生具備與物理相關學門之互助與互動
3.引導學生進入光電及固態電子相關領域
4.訓練並引導學生從事實驗等科技實務技能
5.啟發學生之創造與獨立思考能力 |
| ◎教學進度： |
| 週次 | 主題 | 教學內容 | 教學方法 |
01
02/21 | Introduction | Explain the Syllabus | 講授。 |
02
02/28 | Vacation | Vacation | 國定假日。 |
03
03/07 | Ch. 1 Scanning Tunneling Microscopy (STM) | 1.1 Introduction
1.2 Principle of STM
1.3 Quantum tunneling effect | 講授。 |
04
03/14 | Ch. 1 Scanning Tunneling Microscopy (STM) | 1.4 Characterization of STM
1.5 Instrumentation design of STM | 講授。 |
05
03/21 | Ch. 1 Scanning Tunneling Microscopy (STM) | 1.6 Operation modes of STM
1.7 Applications of STM
1.8 Novel development of STM | 講授。 |
06
03/28 | Ch. 1 Scanning Tunneling Microscopy (STM) | 2.1 Introduction
2.2 Principle of AFM
2.3 Beam deflection detection | 講授。 |
07
04/04 | Ch. 2 Atomic Force Microscopy (AFM) | 2.4 Instrumentation design of AFM
2.5 Characterization of AFM | 講授。 |
08
04/11 | Ch. 2 Atomic Force Microscopy (AFM) | 2.6 Operation modes of AFM
2.7 Origin of Atomic force
2.8 Applications of AFM | 講授。 |
09
04/18 | Ch. 2 Atomic Force Microscopy (AFM) | 2.9 Novel development of AFM: MFM, EFM, CFM | 講授。 |
10
04/25 | 1st Mid-Term Examination | Examination of Ch. 1 & 2 | 第一次期中考。 |
11
05/02 | Ch. 3 Top-down Lithography | 3.1 Photolithography
3.2 E-beam lithography | 講授。 |
12
05/09 | Ch. 3 Top-Down Lithography | 3.3 Ion-beam lithography
3.4 Soft lithography | 講授。 |
13
05/16 | Ch. 4 Bottom-Up Lithography | 4.1 Scanning Probe lithography | 講授。 |
14
05/23 | 2nd Mid-Term Examination | Examination of Ch. 3 & 4 | 第二次期中考。 |
15
05/30 | Paper Seminar | Student Oral | 口頭報告、討論。 |
16
06/06 | Paper Seminar | Student Oral | 口頭報告、討論。 |
17
06/13 | Paper Seminar | Student Oral | 口頭報告、討論。 |
18
06/20 | Final Examination | Operation Examination | 操作/實作、操作考。 |
◎課程要求：
建議預修課程：量子物理、力學、電磁學 |
◎成績考核
課堂參與討論10%
期中考40%
口頭報告20%
操作/實作30%
補充說明：教材為自編的POWER POINT講義 |
◎參考書目與學習資源
參考用書：
Surface Analysis: The Principal Techniques, Vickerman Gilmore, Wiley (高立圖書) |